|
|
|
|
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография
Дракин Александр Юрьевич
Код: 34992210
Страниц: 284
Переплет: твердый Иллюстрации: ч/б иллюстрации Бумага: офсетная Язык издания: русский Год издания: 2018 Размер: 13 x 20 x 1.5 см
Вес: 336 г.
ISBN: 978-5-8114-8773-8
Наличие: на складе (отправка в течение 12-17 рабочих дней)
Основной раздел
54.42 €
Скидка: 45%
вместо: 98.95 €
|
Описание:
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника", "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника".
2-е издание, стереотипное.
|
|
|
|
|
